干涉工作原理

干涉技術的工作原理是：將光分成光學傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產生干涉。干涉物鏡允許顯微鏡作為干涉儀而工作；焦點對準后，可在樣本上觀察到條紋。

光學方案

PSI 的光學方案與 FV 具有相同配置，但是現在采用干涉物鏡而不是明場。為了獲得形貌，沿著 Z 方向掃描傳感器頭。對于 PSI，掃描幾微米，并檢索相位。對于 CSI，掃描需要的微米數，以掃描完整表面。

PSI :相移干涉

對于所有數值孔徑 (NA)，開發了相移干涉法(PSI)，以亞埃分辨率測量高度光滑和連續表面的高度。可以使用極低的放大率 (2.5X) 測量具有相同高度分辨率的大視場。

EPSI:擴展相移干涉技術

EPSI 結合了兩種干涉測量技術，CSI（白光干涉） 和 PSI（相移干涉），在具備數百微米的高度掃描范圍的同時，也能擁有0.1 nm的高度測量分辨率，從而克服這兩種測量方式本身的技術限制。

CSI:相干掃描干涉

相干掃描干涉法(CSI) 使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度，任何放大倍率下均達到 1 nm 的高度分辨率。

專屬算法

Sensofar共聚焦白光干涉儀采用干涉法，3D 測量能以高精度進行。可沿 Z 軸掃描，在整個樣本

主要特征

   Sensofar共聚焦白光干涉儀帶納米系統噪聲的大視場，無論 物鏡如何  

   PSI：0.01 nm 系統 噪聲 

   從 1.5 μm 至 100 μm的厚度測量

上獲得條紋，分別從 PSI 或 CSI 的干涉圖強度或相位獲取高度信息，用獲取的不同像素的高度重新構建 3D 圖像。

干涉環

在森索法爾，我們一直致力于提高我們的干涉儀設備的性能。這就是為什么我們在我們的10XDI和20XDI鏡頭中增加了一個參考鏡調節環的原因。這個小巧但功能*的增加件使我們能夠微調每個四個光源的參考鏡的位置，確保在全色譜范圍內實現優異的性能，并產生更準確的干涉測量結果。